インサーキットテスタ（ICT）について

　インサーキットテスタ（ICT；In-circuit tester）は、プリント基板に実装された電子部品（抵抗器、コンデンサ、ダイオード、トランジスタなど）の定数や特性を測定することで、基板の良否を判定する検査装置です。部品や基板を破壊せずに検査できるため、量産基板の品質保証に適しています 。

　インサーキットテスタの動作原理は、各部品に小電流や定電圧を印加し、抵抗値、容量、誘導値、直流電流増幅率（hFE）、ダイオードの順方向電圧（Vf）などを測定します。測定結果に基づき、部品や接続の不良を特定します。従来のテスタで1点ずつ測定するのに比べ、ICTでは複数箇所を同時に高速測定できるため、生産性が向上します。

　インサーキットテスタのメリットとしては以下のような点が挙げられます。
　①非破壊検査；部品や基板を損傷せずに検査が可能であること。
　②高精度・信頼性；国家標準にトレース可能な測定結果を提供できること。
　③良検出能力；外観検査では見えない電気的な不良を発見できること。
　④生産性向上；一括検査により検査時間を短縮し、ROM書込みや動作試験との統合も可能であること。

　実装基板の一般的な検査方法であるAOI（自動光学検査）は、基板の外観やはんだ状態をカメラで検査するものですが、インサーキットテスタは電気的特性を直接測定するため、AOIでは検出できない内部不良や部品間の接続不良も検出可能となります。

　インサーキットテスタは、民生用電子機器や産業機器の量産基板に広く導入されており、フラッシュマイコンのROM書込み工程と組み合わせたインライン検査など、品質向上とコスト削減を同時に実現するシステム構築にも利用されています 。

(参考ブログ)
https://www.pec-kumata.com/post/incircuittester